目的：
建立基于傅里叶变换红外光谱仪的发射率测量系统，获取不同温度条件下(100℃-2000℃)样品的发射率特性。

系统组成：
傅里叶红外光谱仪、标准黑体辐射源、样品加热炉、光学平台、光电高温计、热电偶、反射镜、水冷光阑、光学准直系统、惰性气体保护系统、发射率测量配套软件。

光谱发射率测试系统示意图

技术参数：
1、傅里叶红外光谱仪
• 光谱范围：12800-340cm-1
• 分辨率：优于0.25cm-1
• 波数精度：优于0.0005 cm-1@1601cm-1
• 信噪比：高于 60000：1，(峰-峰值，1分钟测量，分辨率：4cm-1)

2、标准黑体辐射源
• 型号：KF-H3000
• 温度范围：600-3000℃
• 腔口尺寸：25.4mm
• 温度分辨率：0.1℃
• 温度稳定性：±0.5℃
• 有效发射率：优于0.995
• 升温时间：5min@室温至2000℃
• 精度：±0.25%±1℃ 

3、样品加热炉
• 型号：KF-H3000EX
• 样品加热温度：100-2000℃
• 样品尺寸：≤Ф25mm
• 与标准黑体辐射源背景辐射相同，方便消除背景干扰

• 发射率定义

光谱发射率定义为实际物体的光谱辐射出射度与同温度黑体的光谱辐射出射度之比：

其中ε(λ,T)为光谱发射率，M样品 (λ,T)为样品的光谱辐射出射度， M黑体 (λ,T)为黑体的光谱辐射出射度，λ为波长、T 为温度。

• 测量原理
采用能量对比法，通过分别测量样品和参考黑体在相同温度下的辐射光谱，计算得到样品的光谱发射率。测量过程中需要考虑：
a.背景辐射校正：扣除环境背景辐射的影响 
b.仪器响应函数校正：消除仪器光谱响应的非均匀性
c.温度稳定性控制：确保测量过程中样品温度的稳定

• 测试流程

• 发射率测试系统实物图