产品简介：

本系统以傅里叶变换红外光谱仪为核心，搭配标准黑体辐射源与专用样品加热炉，可在100℃–2000℃宽温范围内，快速、准确获取样品光谱发射率数据。系统采用水冷、惰性气体保护系统与高精度控温系统，测量稳定、干扰小、重复性好，广泛用于材料研究、航空航天、高温涂层、红外特性检测等领域。

目的：

基于傅里叶变换红外光谱仪，专业解决全温区（100℃–2000℃）材料精准发射率测量难题。

核心优势：
•  宽温覆盖：100℃–2000℃全温覆盖，稳定性优异
•  同源黑体设计：加热炉与黑体炉背景辐射一致，干扰性小，测量数据更准确
•  全自动测量：自动控温、自动数据采集
•  高温安全稳定：水冷 + 惰性气体保护系统，安全稳定，适配科研与工业检测

•  专业软件支持：实时显示光谱曲线，自动生成发射率数据与报告

核心配置：

•  傅里叶变换红外光谱仪（FTIR)
•  标准黑体辐射源
•  专用样品加热炉
•  高精度测温系统（光电高温计 / 热电偶）
•  光学系统
•  水冷光阑、惰性气体保护系统

高温光谱发射率测量系统示意图

核心技术参数：
1、傅里叶变换红外光谱仪
•  光谱范围：中红外波长、近红外波长（可选）

2、标准黑体辐射源
•  型号：FSL-1700、FSL-2300（可选）
•  温度范围：100-1700℃、300-2300℃
•  腔口尺寸：50mm、25.4mm 
•  温度分辨率：0.1℃
•  温度稳定性：±0.2℃、±0.5℃

3、样品加热炉
•  型号：FSL-1700EX、FSL-3000EX（可选）
•  加热温度：100-1000℃、100-2000℃
•  样品尺寸：≤50mm、≤25mm
•  优势：与标准黑体辐射源背景辐射一致，大幅降低干扰

测量原理：

1、发射率定义

光谱发射率定义为实际物体的光谱辐射出射度与同温度黑体的光谱辐射出射度之比：

其中ε(λ,T)为光谱发射率，M样品 (λ,T)为样品的光谱辐射出射度， M黑体 (λ,T)为黑体的光谱辐射出射度，λ为波长、T 为温度。
2、测量流程