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半导体测温系统: 半导体测温系统

光纤高温计

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黑体辐射源
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红外测温仪-40~3750℃
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长波红外扫描热像仪(8~14μm) 玻璃专用型扫描热像仪(4.8~5.2μm) 中波红外扫描热像仪(3~5μm) 短波红外扫描热像仪(0.8~2μm) 红外扫描热像仪显示和控制软件红外扫描热像仪附件配件、系统配置红外扫描热像仪解决方案

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